- מיקרוסקופית אלקטרונים חודרים (TEM): אפיון אנליטי, הולוגרפיית אלקטרונים למיפוי שדות מגנטיים (לורנץ) ופוטנציאל אלקטרוסטטי.
- חומרים מגנטיים להתקני זיכרון: הקשר בין הרכב ומבנה החומרים לתכונות מגנטיות וחשמליות של ההתקן.
פרופ' עמית כהן
סגל אקדמי בכיר במחלקה למדע והנדסה של חומרים
מחלקה למדע והנדסה של חומרים
סגל אקדמי בכיר